Рубрика

Назва:

 

прилади для вимірювання оптичних властивостей, оптичні прилади для визначення неоптичних властивостей  

Назва:

 

рефрактометри  

Назва:

 

рефрактометри для вимірювання гранічних кутів: рефрактометри Аббе, заглибні рефрактометри, сферичні рефрактометри, рефрактометри для коштовного каміння  

Назва:

 

відхильні рефрактометри: різницеві рефрактометри, рефрактометри Гільґера, рефрактометри Ченса, мікроскоп-рефрактометри, спектрометри  

Назва:

 

відбивні рефрактометри  

Назва:

 

поляриметри, полярископи, еліпсометри  

Назва:

 

фотометри за принципом дії та діапазону довжини хвиль  

Назва:

 

фотометри з фільтрами  

Назва:

 

спектрофотометри  

Назва:

 

фотометри для вимірювання абсорбції  

Назва:

 

емісійні фотометри: дугові фотометри, іскрові фотометри  

Назва:

 

фотометри люмінесцентні, флуоресцентні фотометри, фосфоресцентні фотометри  

Назва:

 

фотометри випромінювання Рамана  

Назва:

 

фотометри для вимірювання розсіяння, фотометри розсіяного світла, тіньові фотометри  

Назва:

 

спектроскопічна апаратура  

Назва:

 

фільтрувальні прилади  

Назва:

 

призмова спектроскопічна апаратура: дисперсійні, призми Аббе, призми Амічі, призми Резерфорда; призмові спектроскопи; призмові спектрометри, призмові спектрографи; призмові монохроматори, призмові спектрофотометри  

Назва:

 

спектроскопічна апаратура з ґратами: дифракційні спектроскопи, дифракційні спектрографи, дифракційні монохроматори, дифракційні спектрофотометри, прилади для отримання оптимальних кольорів за допомогою дифракційних ґрат  

Назва:

 

інтерференційна спектроскопічна апаратура: інтерференційні спектроскопи, інтерференційні спектрометри, спектрометри Фур'є  

Назва:

 

прилади для обробки спектрограм, допоміжні прилади для калібрування, фотометри для вимірювання спектральних ліній  

Назва:

 

інші прилади для вимірювання оптичних властивостей: денситометри, гоніофотометри; прилади для визначення фокусних відстаней, апертур; прилади для визначення якості зображення, аберації; прилади для визначення передавальних функцій, частотно-контрастних характеристик