Книга
93 14953

Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / под ред. Д. Бриггс; под ред. М. П. Сих; пер. с англ. под ред. В. И. Раховский, И. С. Рез. – М. : Мир, 1987. – 600 с. : рис., табл.
Библиогр.: в конце глав.



1194503 ОФ