- Нові надходження
- Простий пошук
- Розширений пошук
- Допомога
- Автори
- Видавництва
- Серії
- Тезаурус (Рубрики)
- Публічні полиці
Белюх, В. - Комбінована еліпсометрична методика повної оптичної характеризації кристалів. IІ. Визначення опти...
Нет экз.
Статья
Автор: Белюх, В.
Електроніка та інформаційні технології: Комбінована еліпсометрична методика повної оптичної характеризації кристалів. IІ. Визначення опти...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Белюх, В.
Електроніка та інформаційні технології: Комбінована еліпсометрична методика повної оптичної характеризації кристалів. IІ. Визначення опти...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Белюх, В.
Комбінована еліпсометрична методика повної оптичної характеризації кристалів. IІ. Визначення оптичних констант кристала / В. Белюх, Б. Павлик // Електроніка та інформаційні технології . – 2021. – Вип.16. – С. 104-117.
Ключевые слова = кристаллы
Белюх, В.
Комбінована еліпсометрична методика повної оптичної характеризації кристалів. IІ. Визначення оптичних констант кристала / В. Белюх, Б. Павлик // Електроніка та інформаційні технології . – 2021. – Вип.16. – С. 104-117.
Ключевые слова = кристаллы