Книга (аналит. описание)

Юр'єв, Сергій Олексійович.
Виявлення дефектних частин напівпроводнікових матер1алів / С. О. Юр'єв, Р. К. Савкіна // "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології, (СЕМСТ-3)", Міжнар. наук.-техн. конф. (3; 2008; Одеса)
Тези доповідей, 2-6 червня 2008 р. / "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології, (СЕМСТ-3)", Міжнар. наук.-техн. конф. (3; 2008; Одеса); гол. ред. В. А. Сминтина; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників [та ін.]. – Одеса : Астропринт, 2008. – С.194.