- Нові надходження
- Простий пошук
- Розширений пошук
- Допомога
- Автори
- Видавництва
- Серії
- Тезаурус (Рубрики)
- Публічні полиці
Рубіш В. М. - Дослідження кінетики кристалізації тонких плiвок(Fs2S3)x(AbSi)100-x оптичним методом
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Автор: Рубіш В. М.
Тези доповідей, 2-6 червня 2008 р.: Дослідження кінетики кристалізації тонких плiвок(Fs2S3)x(AbSi)100-x оптичним методом
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Рубіш В. М.
Тези доповідей, 2-6 червня 2008 р.: Дослідження кінетики кристалізації тонких плiвок(Fs2S3)x(AbSi)100-x оптичним методом
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Рубіш, В. М.
Дослідження кінетики кристалізації тонких плiвок(Fs2S3)x(AbSi)100-x оптичним методом / В. М. Рубіш, І. І. Туряниця // "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології, (СЕМСТ-3)", Міжнар. наук.-техн. конф. (3; 2008; Одеса)
Тези доповідей, 2-6 червня 2008 р. / "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології, (СЕМСТ-3)", Міжнар. наук.-техн. конф. (3; 2008; Одеса); гол. ред. В. А. Сминтина; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників [та ін.]. – Одеса : Астропринт, 2008. – С.355.
Рубіш, В. М.
Дослідження кінетики кристалізації тонких плiвок(Fs2S3)x(AbSi)100-x оптичним методом / В. М. Рубіш, І. І. Туряниця // "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології, (СЕМСТ-3)", Міжнар. наук.-техн. конф. (3; 2008; Одеса)
Тези доповідей, 2-6 червня 2008 р. / "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології, (СЕМСТ-3)", Міжнар. наук.-техн. конф. (3; 2008; Одеса); гол. ред. В. А. Сминтина; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників [та ін.]. – Одеса : Астропринт, 2008. – С.355.