Книга (аналит. описание)

Рубіш, В. М.
Дослідження кінетики кристалізації тонких плiвок(Fs2S3)x(AbSi)100-x оптичним методом / В. М. Рубіш, І. І. Туряниця // "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології, (СЕМСТ-3)", Міжнар. наук.-техн. конф. (3; 2008; Одеса)
Тези доповідей, 2-6 червня 2008 р. / "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології, (СЕМСТ-3)", Міжнар. наук.-техн. конф. (3; 2008; Одеса); гол. ред. В. А. Сминтина; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників [та ін.]. – Одеса : Астропринт, 2008. – С.355.