Статья

Уколов, А. И.
Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в приповерхностном слое монокристаллического Ge зондовым методом / А. И. Уколов, В. А. Надточий, Н. Н. Голоденко // Вісник Харківського нац. університету ім. В.Н. Каразіна. – 2011. – N962: сер.: Фізика, вип.15. – С. 63-66.