Книга
СМЫНТЫНА 1333

Advanced atomic force microscopy technigues II / ed. T. Glatzel, T. Schimmel. – Frankfurt am Main : Beilstein-Inst. zur Forderung der Chemischen Wissenschaften, 2014. – [214] с. разд. паг. : fig., tab. – (Great science in nano dimensions, ISSN 2190-4286)
Imprint: Beilstein journal of nanotechnology. Thematic series . – Библиогр. в конце ст.

ББК В338.28я42

Предметні рубрики = Физика : электричество и магнетизм : движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях : электронная и ионная оптика : электронные и ионные микроскопы, электронная микроскопия

1659720 ОФ