- Нові надходження
- Простий пошук
- Розширений пошук
- Допомога
- Автори
- Видавництва
- Серії
- Тезаурус (Рубрики)
- Публічні полиці
Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 × 8) nanostructured surface
Нет экз.
Электронный ресурс (аналит. описание)
Автор:
Український фізичний журнал. - Т.60, № 2: Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 × 8) nanostructured surface
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Український фізичний журнал. - Т.60, № 2: Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 × 8) nanostructured surface
б.г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс (аналит. описание)
Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 × 8) nanostructured surface [Электронный ресурс] / А. Goriachko [et al.] // Український фізичний журнал = Украинский физический журнал = Ukrainian Journal of Physics : наук. журн. / АН Української РСР, Відділ фізико-математичних наук. – Київ : Вид-во АН УРСР, 1956. - Український фізичний журнал . - Т.60, № 2. – 2015. – С. 148-152
Електрон. копія друк. публ. – Режим доступу обмежений, тільки у ч/з.
Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 × 8) nanostructured surface [Электронный ресурс] / А. Goriachko [et al.] // Український фізичний журнал = Украинский физический журнал = Ukrainian Journal of Physics : наук. журн. / АН Української РСР, Відділ фізико-математичних наук. – Київ : Вид-во АН УРСР, 1956. - Український фізичний журнал . - Т.60, № 2. – 2015. – С. 148-152
Електрон. копія друк. публ. – Режим доступу обмежений, тільки у ч/з.