- Нові надходження
- Простий пошук
- Розширений пошук
- Допомога
- Автори
- Видавництва
- Серії
- Тезаурус (Рубрики)
- Публічні полиці
Вплив процесу вимірювання опору кристалів р-Si на його значення за дії пружної деформації
Нет экз.
Статья
Автор:
Електроніка та інформаційні технології: Вплив процесу вимірювання опору кристалів р-Si на його значення за дії пружної деформації
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Електроніка та інформаційні технології: Вплив процесу вимірювання опору кристалів р-Si на його значення за дії пружної деформації
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Вплив процесу вимірювання опору кристалів р-Si на його значення за дії пружної деформації / Б. Павлик [та ін.] // Електроніка та інформаційні технології . – 2017. – Вип. 8. – С. 135-142. : рис., табл.
Вплив процесу вимірювання опору кристалів р-Si на його значення за дії пружної деформації / Б. Павлик [та ін.] // Електроніка та інформаційні технології . – 2017. – Вип. 8. – С. 135-142. : рис., табл.
