Статья

Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GaN за мікроплазмами (огляд) / В. П. Велещук [та ін.] // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. – 2016. – Вып.51. – С. 31-42.