- Нові надходження
- Простий пошук
- Розширений пошук
- Допомога
- Автори
- Видавництва
- Серії
- Тезаурус (Рубрики)
- Публічні полиці
Махний, В. П. - Определение высоты барьера контактов Ni- полупроводник фотоэлектрическим методом
Нет экз.
Статья
Автор: Махний, В. П.
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології: Определение высоты барьера контактов Ni- полупроводник фотоэлектрическим методом
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Махний, В. П.
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології: Определение высоты барьера контактов Ni- полупроводник фотоэлектрическим методом
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Махний, В. П.
Определение высоты барьера контактов Ni- полупроводник фотоэлектрическим методом / В. П. Махний, М. М. Березовский [и др.] // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. – 2018. – Т.15, № 2. – С. 13-19.
Махний, В. П.
Определение высоты барьера контактов Ni- полупроводник фотоэлектрическим методом / В. П. Махний, М. М. Березовский [и др.] // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. – 2018. – Т.15, № 2. – С. 13-19.