Махний, В. П. Определение высоты барьера контактов Ni- полупроводник фотоэлектрическим методом / В. П. Махний, М. М. Березовский [и др.] // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. – 2018. – Т.15, № 2. – С. 13-19.
Parse error: syntax error, unexpected T_STRING in C:\inetpub\wwwroot\opac\app\views\elements\liens.ctp on line 6