Автореферат
РЕФ 178058

Сичікова, Яна Олександрівна.
Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників : автореф. дис ... д-ра техн. наук : спец. 05.01.02 "Стандартизація, сертифікація та метрологічне забезпечення" / Я. О. Сичікова. – Харків, 2019. – 40 с.



Предметні рубрики = ПРИКЛАДНІ НАУКИ. МЕДИЦИНА. ТЕХНІКА : Машинобудування. Техніка в цілому : випробування матеріалів, матеріали промислового значення, електростанції, економіка енергетики : автореферати - випробування матеріалів, матеріали промислового значення, нанотехнологія, електростанції, економіка енергетики

1673971 ОФ